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Title: Méthodes de détermination par diffraction des rayons X des paramètres du réseau cristallin : Application aux métaux purs et aux alliages
Authors: HAMAISSIA , Mohamed Amine/ Encadré par TORCHANE, Lazhar
Keywords: Pb , Bi , Sb , DRX
Issue Date: 2024
Publisher: UNIVERSITE DE ECHAHID CHEIKH LARBI TEBESSI
Abstract: Cette mémoire porte sur une étude utilisant la diffraction des rayons X sur des échantillons en poudre pour déterminer les paramètres du réseau cristallin. Elle est appliquée à des métaux purs (plomb, bismuth, antimoine) ainsi qu'à deux alliages spécifiques : 90%Pb-5%Sb-5%Bi et 80%Pb-10%Sb-10%Bi. L'objectif est d'analyser et de comparer les structures cristallines de ces matériaux pour comprendre leurs propriétés physiques et chimiques
URI: http//localhost:8080/jspui/handle/123456789/11824
Appears in Collections:2- Génie Mécanique

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