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dc.contributor.authorHAMAISSIA , Mohamed Amine/ Encadré par TORCHANE, Lazhar-
dc.date.accessioned2024-09-09T09:15:25Z-
dc.date.available2024-09-09T09:15:25Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.urihttp//localhost:8080/jspui/handle/123456789/11824-
dc.description.abstractCette mémoire porte sur une étude utilisant la diffraction des rayons X sur des échantillons en poudre pour déterminer les paramètres du réseau cristallin. Elle est appliquée à des métaux purs (plomb, bismuth, antimoine) ainsi qu'à deux alliages spécifiques : 90%Pb-5%Sb-5%Bi et 80%Pb-10%Sb-10%Bi. L'objectif est d'analyser et de comparer les structures cristallines de ces matériaux pour comprendre leurs propriétés physiques et chimiquesen_US
dc.language.isofren_US
dc.publisherUNIVERSITE DE ECHAHID CHEIKH LARBI TEBESSIen_US
dc.subjectPb , Bi , Sb , DRXen_US
dc.titleMéthodes de détermination par diffraction des rayons X des paramètres du réseau cristallin : Application aux métaux purs et aux alliagesen_US
dc.typeThesisen_US
Appears in Collections:2- Génie Mécanique

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