Méthodes de détermination par diffraction des rayons X des paramètres du réseau cristallin : Application aux métaux purs et aux alliages

dc.contributor.author	HAMAISSIA , Mohamed Amine/ Encadré par TORCHANE, Lazhar
dc.date.accessioned	2024-09-09T09:15:25Z
dc.date.available	2024-09-09T09:15:25Z
dc.date.issued	2024
dc.identifier.uri	http//localhost:8080/jspui/handle/123456789/11824
dc.description.abstract	Cette mémoire porte sur une étude utilisant la diffraction des rayons X sur des échantillons en poudre pour déterminer les paramètres du réseau cristallin. Elle est appliquée à des métaux purs (plomb, bismuth, antimoine) ainsi qu'à deux alliages spécifiques : 90%Pb-5%Sb-5%Bi et 80%Pb-10%Sb-10%Bi. L'objectif est d'analyser et de comparer les structures cristallines de ces matériaux pour comprendre leurs propriétés physiques et chimiques	en_US
dc.language.iso	fr	en_US
dc.publisher	UNIVERSITE DE ECHAHID CHEIKH LARBI TEBESSI	en_US
dc.subject	Pb , Bi , Sb , DRX	en_US
dc.title	Méthodes de détermination par diffraction des rayons X des paramètres du réseau cristallin : Application aux métaux purs et aux alliages	en_US
dc.type	Thesis	en_US