Abstract:
Ce mémoire a pour objet l’élaboration et l’étude des propriétés de films minces de système TiO2/5SnO2préparées par la méthode Sol-Gel et déposés selon le procédé sur des substrats en verre.
Les propriétés structurales et optiques des échantillons ont été analysées en fonction de la température de recuit dans l’intervalle de température 300- 500°C..
Les échantillons ont été caractérisés par la spectroscopie rétrodiffusion de Rutherford (RBS) et la spectroscopie UV-Visible.
Le spectre des films minces du système TiO2/5SnO2 obtenus par la méthode RBS sont constitués de deux signaux (‘Ti’ et ‘Sn’) du côté des hautes énergies et d'un signal ‘O’ du côté des faibles énergies. Le plateau énergétique apparaissant entre ces deux côtés correspond à ‘Si’ du substrat en verre.
Les films mince du système TiO2/5SnO2sont transparents dans le visible et opaques dans l’UV. Les valeurs de l’indice de réfraction et du gap optique calculés diminuent avec l’élévation de la température de recuit, et en même temps la porosité volumique, la taille des nanocristaux et le désordre augmentent
