Résumé:
Des couches minces de TiO2:Co ont été préparées par la méthode Sol-Gel et déposés selon le procédé dip-coating sur des substrats en verre. Les propriétés structurales et optiques électriques des échantillons formés de monocouches de TiO2 non-dopés et dopés 3, 5 et 7%wt. cobalt.
Les différents échantillons sont caractérisés par la diffraction des rayons X (DRX) et UV-Visible (UV-vis)
L’analyse par diffraction X de la couche mince de TiO2 non dopé montre 2 pics à 2θ=25.43° et 2θ=36.01°correspondant à la phase anatase avec le plan (101) et (103) respectivement. Par contre les spectres des rayons X des couches minces deTiO2 dopés au cobalt montrent que l’ajout du cobalt inhabile la cristallisation du dioxyde de titane. Avec l’augmentation du taux de dopage à 7%, la structure obtenue est amorphe.
Les films minces de TiO2:Co sont transparents dans le visible et opaques dans l’UV. La transmittance et le gap optique calculé augmentent aussi avec augmentent avec le dopage en cobalt (0 à 7 % wt.). Les valeurs de l’indice de réfraction diminuent avec le dopage en cobalt, et en même temps la porosité volumique et le désordre augmentent.
