Résumé:
• إن الهدف الأساسي من هذا البحث هو دراسة بعض الخصائص الفيزيائية والحيوية لمركب الديوبسيد ذي الصيغة الكيميائية CaMgSi2O6 باستخدام عدة تقنيات أهمها انعراج الأشعة السينية (DRX) و المجهر الالكتروني الماسح (MEB) الذي سمح لنا بدراسة البنية المجهرية للعينات.
• أول ما يمكن استخلاصه من هذا البحث هو تعلق نسبة التلبيد بدرجة حرارة التحضير للعينات حيث بينت النتائج أن قيم نسبة التلبيد للعينات تتزايد مع زيادة درجة حرارة المعالجة من 70.0% عند°C 1200 إلى 96.2% عند°C 1300.
• أما بالنسبة للخصائص الميكانيكية لمركب الديوبسيد المحضر، فقد تحصلنا على قيم للصلادة المجهرية تقدر بـGPa 4.7 بالنسبة للعينات المحضرة عند °C1300 في حين لم تتجاوز GPa3.2 بالنسبة للعينات المعالجة عند °C1200.
• أخيرا تمكّنا من إثبات إمكانية تشكل الأباتيت على سطح عينات الديوبسيد المحضر عند الدراسة خارج الجسم، وهذا من خلال دراسة تغير تركيز ايونات الكالسيوم في سائل الجسم المقلد. أين أثبتنا تآكل سطح الحبيبات من ثم تنوى بذور الطور الجديد عند الغمس لمدة 14 يوم، هذه البذور تنمو وبالتدريج لتشكل في الأخير طبقة مستمرة من الأباتيت وهذا وفق نتائج التحليل باستخدام المجهر الالكتروني الماسح
