Résumé:
L’intense photoluminescence dans le visible observée sur le silicium poreux lui a
ouvert plusieurs perspectives d’application en optoélectronique et photovoltaïque
Dans ce mémoire nous avons étudié les propriétés optiques et physico-chimiques du
silicium poreux au moyen de plusieurs techniques de caractérisation telles que
l’ellipsométrie, la méthode FTIR et la PL. Pour l’analyse ellipsométrique, via
l’application de la théorie des milieux effectifs de Bruggeman ou BEMA (Bruggeman
Effective Medium Approximation). La validation de ces modèles est faite par
comparaison entre les spectres simulés et ceux relevés par ellipsométrie. La
photoluminescence du matériau est observée dans le domaine d’infrarouge avec une
longueur d'onde proche de 680nm. Cependant, l’étude d’absorption infrarouge par
FTIR a permis d’obtenir plusieurs informations sur les liaisons contenues dans ce
matériau.
